负载电容CL对相噪和起振的影响

发表于 2026-09-15 10:42
楼主 | 电梯直达

负载电容由外围匹配电容、芯片管脚、PCB走线及焊盘寄生电容共同决定。它会影响实际工作频率、牵引量、负阻裕量和起振时间。

较小的负载电容:较小CL通常可减小振荡回路的电容负担,并可能提高负阻裕量,使晶振更容易起振。但CL过小可能带来以下风险:实际频率偏离标称值、对寄生电容和元件容差更敏感、频率牵引量增大、输出稳定性和系统一致性下降。

较大的负载电容:较大CL通常可降低频率对少量寄生电容变化的敏感性,但也可能降低负阻裕量、延长启动时间,并增加不起振风险。

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