晶振能否可靠起振，还需要考虑振荡器提供的负阻（Negative Resistance）。负阻可以理解为振荡器用来抵消晶体损耗的能力。常见的负阻裕量表达方式为：Margin = R_neg / ESR。

理论上只要振荡器负阻能够克服晶体ESR就可以建立振荡，但工程设计不能只满足刚好能够起振。因为实际产品还会受到温度、电源变化、PCB寄生参数、晶体批次差异以及老化等因素影响。不同芯片厂商给出的设计建议有所不同。例如，NXP的设计指南建议在实际应用中将负阻能力设计到晶体ESR的约5倍，以获得更充分的可靠性裕量。