如何降低晶振TS灵敏度对实际电路的影响?

发表于 2026-09-15 12:16
楼主 | 电梯直达

如果希望减少负载电容变化造成的频率偏移,可以从以下几个方面进行优化:

- 合理选择CL:根据晶振规格书选择合适的负载电容,并考虑PCB和芯片引脚产生的寄生电容。

- 优化PCB布局:晶振尽量靠近MCU或振荡器芯片,缩短晶振相关走线,减少不必要的寄生电容。

- 控制电容误差:匹配电容本身存在容差和温度特性,因此高精度应用需要选择稳定性更好的电容器件。

- 进行实际测试:设计完成后,通过频率测试、高低温测试以及批量测试确认实际频率变化,而不能仅依靠理论计算。

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admin
  • 发表于 2026-09-15 12:17 | 查看所有

    沙发

    KOAN采用 S&A250B晶振测试设备对晶体谐振器进行电性能测试,可测试包括频率、负载电容、ESR等在内的相关参数,并可用于评估晶体的牵引特性。以下为KOAN KX70、16MHz晶体谐振器的实测数据:


    晶振的频率稳定性并不是由单一参数决定的。TS灵敏度、负载电容、温度稳定度、老化率和ESR等参数,需要结合实际应用进行综合评估。KOAN晶振提供多种无源晶振和有源晶振,可根据客户对频率精度、稳定度、温度范围及频率调节能力的要求进行选型,并提供相应的技术支持。

    【真诚赞赏,手留余香】
    admin
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