无源晶振需要依靠外部振荡电路起振。若晶体的动态电阻或谐振电阻较高，意味着电路损耗更大，芯片内部振荡器需要提供更强的负阻和足够的环路增益，才能可靠起振。当R1、RR或ESR超出芯片振荡器可驱动范围时，可能出现：

1、起振时间变长

2、低温或低电压下不起振

3、振幅不足或振荡不稳定

4、温度变化后停振

5、老化后起振裕量下降

因此，KOAN晶振选型时应确认晶振的最大ESR或最大谐振阻抗，是否低于芯片数据手册允许的上限，并为温度、批次差异和老化预留足够裕量。