晶振的负电阻测量方法
负电阻测量的方法是在晶体一端串联一个测试电阻Rtest(建议使用低感抗电阻)，逐步增加阻值，直到振荡刚好停止。
负电阻 ≈ Rtest + 晶体 RL
该数值反映了振荡电路的实际负阻能力。这种方法是评估MCU内部振荡能力的常用手段。
发表于 2026-03-19 02:42
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