晶振可靠性测试:耐焊接热试验

发布时间:2023-11-16 阅读次数:323

可焊性和耐焊接热试验目的:确定晶振能否经受焊接(烙焊、浸焊、波峰焊或回流焊)端头过程中所产生的热效应考验。耐焊接热试验可以参照GJB 360B.208/210方法试验要求。试验设备有熔锡炉和放大镜。

试验目的:

  • 耐受性:评估晶振能否承受高温环境;

  • 可焊性:评估材料能否用于焊接;

  • 稳定性:在高温下,评估材料能否会变形融化等。

 

具体规范:

料温度260℃±5℃ 10秒 3次,其中SMD产品保持30秒1次:

  • DIP直插晶振:锡面离本体1.5mm;

  • SMD贴片晶振:锡覆盖PAD。

 

试验过程影响:

如果焊接操作不当会对晶振造成损伤,严重时会造成停振;或造成软伤害,即使可以正常工作,在未来的使用中也会造成停振的现象。KOAN晶振安装焊接环节需要格外的注意。焊接分为手工和机器焊接:

  • 手工焊接:烙铁头应该控制在350℃/3s,或者260℃/5s;

  • 机器焊接:回流焊主要用于贴片晶振的焊接(例如KS32, KS50, KS70...); 波峰焊用于插件元件(DIP封装,例如KS08, KS14...)。

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