电噪声是引起晶振相位随机抖动的根本原因。其直接影响输出信号的稳定性。晶振的短期频率稳定度主要受随机噪声影响,并与输出信号的信噪比密切相关。从频率角度看,短期频率稳定度通常以相位噪声(Phase Noise)来表示;从时域角度看,则以抖动(Jitter)作为衡量指标。两者本质上描述的是同一相位随机变化在不同分析域下的表现。由于时间与频率互为倒数关系(Time=1/Frequency),相位噪声与抖动之间可以互相换算,共同决定晶振在高速域高精度系统中的时序性能。

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尺寸

型号

输出波形

工作电压

频率范围Hz

特种代码

参数选择

规格书

    1. 3.2x2.5
    2. KJ328D
    3. LVDS
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~2.1G
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 5.0x3.2
    2. KS508T
    3. CMOS
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~250.0M
    6. J Q S H

      相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 5.0x3.2
    2. KD508C
    3. HCSL
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~700.0M
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 5.0x3.2
    2. KJ508D
    3. LVDS
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~2.1G
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 7.0x5.0
    2. KS708T
    3. CMOS
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~250.0M
    6. J Q S H

      相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 7.0x5.0
    2. KD708C
    3. HCSL
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~700.0M
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 7.0x5.0
    2. KJ708D
    3. LVDS
    4. 1.8V~3.3V
    5. 150.0M~2.1G
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 2.5x2.0
    2. KD256D
    3. LVDS
    4. 1.8V~3.3V
    5. 13.0M~220.0M
    6. D J

      差分输出 相噪抖动

    7. 立即选择
    1. 3.2x2.5
    2. KJ326D
    3. LVDS
    4. 2.5V~3.3V
    5. 100.0M~1.5G
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
    1. 5.0x3.2
    2. KJ506D
    3. LVDS
    4. 2.5V~3.3V
    5. 100.0M~1.5G
    6. D J Q S H

      差分输出 相噪抖动 编程晶振 切换频率 超高频

    7. 立即选择
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