TS灵敏度（Trim Sensitivity，牵引灵敏度）是衡量晶振频率随负载电容变化而变化程度的参数，通常以ppm/pF表示。TS值越高，负载电容发生相同变化时，晶振频率产生的变化越大；TS值越低，频率对负载电容变化越不敏感，通常更有利于保持频率稳定。TS灵敏度会影响晶振的频率调节范围以及实际电路中的频率稳定性。

什么是TS灵敏度？

TS（Trim Sensitivity）可以理解为晶振频率对负载电容变化的敏感程度。通常用ppm/pF表示。例如，一个晶振的TS为 2 ppm/pF，意味着在其他条件基本不变的情况下，负载电容变化1pF，晶振频率可能产生约2ppm的变化。因此，TS可以帮助判断：

负载电容变化会造成多大的频率偏移；

晶振是否容易进行频率微调；

PCB寄生电容变化会不会影响工作频率；

实际电路中的频率稳定性是否容易受到外部电容变化影响。

TS灵敏度为什么重要？

晶振在实际电路中并不是独立工作的。晶振两端的负载电容除了外部匹配电容，还会受到PCB走线、芯片引脚、封装以及其他寄生电容的影响。如果TS较高，那么这些电容发生细微变化时，也可能带来更加明显的频率变化。

PCB寄生电容变化 → 实际CL发生变化 → 晶振频率发生偏移。

在对频率稳定性要求较高的应用中，需要同时考虑晶振的TS参数和实际电路中的负载条件。

TS高好还是低好？

高TS：

频率调节更灵敏，对负载电容变化更加敏感。较小的电容变化即可产生明显的频率调整；适合需要进行频率微调的设计。但是对PCB寄生电容变化更加敏感。外部电容误差可能带来更明显的频率偏移；电路设计和批量一致性控制要求更高。如果产品需要较大的频率调节范围，高TS可能更加方便。

低TS

TS较低意味着，在相同的负载电容变化下，晶振产生的频率变化相对较小。有利于提高实际电路中的频率稳定性；对PCB寄生电容变化的容忍度更高。但是频率调整的灵敏度较低。如果需要通过改变负载电容进行频率微调，所需的电容变化可能更大。因此，TS的选择本质上是在频率可调性与对负载变化的敏感程度之间进行权衡。

什么因素会影响晶振的TS？

晶振的TS并不是一个孤立的参数，它与晶体自身的设计以及实际工作条件有关。其中，负载电容CL是非常重要的因素。对于常见的石英晶体谐振器，实际工作频率位于串联谐振频率和并联谐振频率之间。改变负载电容，会改变晶体的实际工作频率。在晶振选型和电路设计时，需要同时关注：标称频率、负载电容CL、TS灵敏度、频率容差、温度稳定度、老化率、ESR、工作温度范围。不能只根据TS一个参数判断晶振的整体稳定性。

TS灵敏度与晶振选型

需要频率调节的应用：如果系统需要通过外部电容、变容二极管等方式对频率进行调整，可以关注TS较高、牵引能力较好的晶体。常见于射频电路、频率合成、PLL相关电路、需要频率微调的产品。

对频率稳定性要求较高的应用：如果产品更加关注长期运行中的频率稳定性，则需要降低外部负载变化对频率的影响，同时结合温度稳定度、老化率等参数进行综合选择。例如通信设备、基站、导航设备、精密测量、工业控制系统这类应用，可以根据实际性能要求考虑TCXO、OCXO等高稳定度晶体振荡器。TCXO和OCXO的优势主要来自温度补偿和恒温控制，并不能简单理解为“TCXO/OCXO就是低TS晶振”。实际选型仍应以具体产品规格书为准。

如何降低TS对实际电路的影响？

如果希望减少负载电容变化造成的频率偏移，可以从以下几个方面进行优化：

- 合理选择CL：根据晶振规格书选择合适的负载电容，并考虑PCB和芯片引脚产生的寄生电容。

- 优化PCB布局：晶振尽量靠近MCU或振荡器芯片，缩短晶振相关走线，减少不必要的寄生电容。

- 控制电容误差：匹配电容本身存在容差和温度特性，因此高精度应用需要选择稳定性更好的电容器件。

- 进行实际测试：设计完成后，通过频率测试、高低温测试以及批量测试确认实际频率变化，而不能仅依靠理论计算。

KOAN晶振测试

KOAN采用 S&A250B晶振测试设备对晶体谐振器进行电性能测试，可测试包括频率、负载电容、ESR等在内的相关参数，并可用于评估晶体的牵引特性。以下为KOAN KX70、16MHz晶体谐振器的实测数据：

晶振的频率稳定性并不是由单一参数决定的。TS灵敏度、负载电容、温度稳定度、老化率和ESR等参数，需要结合实际应用进行综合评估。KOAN晶振提供多种无源晶振和有源晶振，可根据客户对频率精度、稳定度、温度范围及频率调节能力的要求进行选型，并提供相应的技术支持。